NEC、米国国立機関の顔認証精度評価で第1位
NECは、世界的権威のある米国国立標準技術研究所(NIST)が実施した直近の顔認証技術のベンチマークテスト(Face Recognition Technology Evaluation (FRTE) 1:N Identification)で世界第1位を獲得した。
本ベンチマークテストにおいては、1200万人分の静止画を用いた「1:N認証」で認証エラー率0.06％と、参加した世界の企業・団体が提出したアルゴリズムの中で第1位の性能評価を獲得した。また、160万人分の静止画を用いた2つのテストと、撮影後12年以上経過した画像を用いて評価を行う経年変化のテストでも第1位となるなど、NISTのWebサイトに掲載されたFRTE 1:N Identification (T>0) by Algorithmの主要8項目のうち４項目で第1位を獲得する高い評価を獲得した。
本ベンチマークテストにおいては、1200万人分の静止画を用いた「1:N認証」で認証エラー率0.06％と、参加した世界の企業・団体が提出したアルゴリズムの中で第1位の性能評価を獲得した。また、160万人分の静止画を用いた2つのテストと、撮影後12年以上経過した画像を用いて評価を行う経年変化のテストでも第1位となるなど、NISTのWebサイトに掲載されたFRTE 1:N Identification (T>0) by Algorithmの主要8項目のうち４項目で第1位を獲得する高い評価を獲得した。
この記事を書いた記者
- 元「日本工業新聞」産業部記者。主な担当は情報通信、ケーブルテレビ。鉄道オタク。長野県上田市出身。
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